科学与技术每日新闻新闻（记者陈十一，通讯员Liang Shaonan），记者于6月27日向Tianjin University获悉Huang Xian是Precision of Precision Instrument的知觉科学和工程学系教授，销毁了所实现的实现的销毁，该公司对MICRO LEDED的高度损失测试是由Tentenacles + Partincles + Partine Resection Interial Internation Jories to Intral Internation Jorion撰写的“ Intral Internation”。 LED被认为是下一代的高端展示技术v同样的测量缺陷和光致发光检测方法只能用于估计它们，并且存在泄漏和错误发现速率。因此，如何实现从劳动力到微型LED晶片终端整合的整个过程的产量始终是一个困难的问题，涵盖了该行业，并且终端产品质量的制造也基于微型LED，例如大面积的屏幕显示和灵活的显示屏。 Ang Pathe Research已遵守一种新的破坏性发现方法的建议，该方法使晶圆“使用柔软度克服硬度”。这项技术就像在检测设备上安装“柔性手指” - 调查系统由弹性的微孔阵列和扩展的电极组成。它可以像指纹一样在晶圆上完全拟合1-5微米的高度差，并且可以以仅0.9兆帕的轻度压力完成准确的测量。这个“ mILD“发现方法显示出惊人的耐用性：经过100万个接触，调查仍然是新的，并且是传统严格探针的一段时间-10倍。“秘密在于独特的三维压力缓解结构，例如在调查中放置“延迟空气垫”。 “黄海介绍，即使在100微米的强烈变形下，调查的内部压力始终是安全和控制的。通过准确调整和控制过程参数，研究人员确保每个研究都完全准确，为LED的主要发现提供了一种新的启动智能发现系统。微型LED的灵活探针阵列，可以轻松应对10×30微米的超小尺寸的发现，这为下一代HIG提供了方法H速晶片检测。 “柔性触手 +智能眼睛”的这种组合为处理微型LED的过程和质量控制提供了强大的工具。这项技术不仅可以解决LED行业的疾病点，而且还为复杂发现晶圆的新途径开辟了新的道路。目前，它已经开始产生的结果，国内LED行业将提供批量和低成本测试解决方案。值得一提的是，这项技术还为提高高端显示面板（例如增强现实（AR）和虚拟现实（VR））的产量奠定了基础。